日本纳普森非接触电阻测试装置

日本纳普森非接触电阻测试装置

非接触式（涡流法）嵌入式片材电阻测量模块（适用于平板板），非接触式（涡流法）嵌入式片材电阻测量模块（用于胶片样品）

产品特性与功能

多点测量 

非接触式

连续在线测量导电薄膜在如PET薄膜等基板上的电阻

·       制造所需的线数（=探针数量）可行，适用于从研发到生产线的广泛应用。

·       由于其无偏移设计，可以连续测量长达24小时而不改变测量值。

·       兼容安装于现有的传输和膜片形成装置上

测量规格

测量目标

·       与新颖和功能性材料相关的（碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等）

·       导电薄膜相关（金属、ITO等）

目标尺寸

按需所需尺寸 

测量范围

10~1,000Ω/平方英尺[标准范围类型]
*测量范围可选择并设置为1m~2,000Ω/平方方形。
请指定测量限值100倍~上限以内的范围。

支持的胶片传输速度：高250mm/秒
测量间隔：每片0.1–1.0秒 *可按0.1秒为单位配置

产品规模

RT-70V：W250×D330×H130mm，
约7公斤